Специалисты Новгородского государственного университета имени Ярослава Мудрого разработали программное обеспечение для автоматического распознавания внешних дефектов монолитных интегральных схем (МИС). Софт различает царапины, частицы грязи и пыли или смазанную металлизацию, которые могут привести к порче микросхем и микрочипов и приводить к сбоям.
Работа программы построена на последовательной работе двух нейросетевых моделей: первая обнаруживает дефекты, а вторая распознает их, сверяя с базой данных. Окончательное решение о допуске изделия в производство принимает оператор на основе подготовленного системой отчета.
Как отметил автор проекта Владислав Рысев, разработка автоматизирует монотонный процесс отбраковки, увеличивает объемы производства и позволяет перераспределить ресурсы квалифицированных специалистов. Прямых аналогов умного софта от НовГУ, предназначенного для обнаружения внешних, а не внутренних дефектов МИС, на рынке нет.
Новое ПО представляет собой полностью отечественный продукт. Оно легко настраивается под задачи пользователя и не требует глубоких знаний в программировании. По результатам тестов софт доработают и передадут заводу. После этого разработчики планируют расширить функционал и создать решение для обнаружения дефектов как внешних, так и внутренних.
Ранее Наука Mail писала об альтернативе дорогостоящим сплавам для транспорта.
